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    鹽霧試驗(yàn)方法

    更新時間:2012-06-18  |  點(diǎn)擊率:2652

    鹽霧試驗(yàn)方法

    鹽溶液采用氯化鈉(化學(xué)純、分析純)和蒸餾

    鹽霧試驗(yàn)方法

     

    中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程

    試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法

    Basic environmental testing procedures for
    electric and electronic products
    Test Ka: Salt mist

    GB/T 2423.17-93
    代替GB 2423.17-8

    本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC 68-2-11《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:》(1981年第三版)。

    1    主題內(nèi)容與適用范圍

    本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)的。

    本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力,以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較,也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。

    本標(biāo)準(zhǔn)不適用作為通用的腐蝕試驗(yàn)方法。

    2    引用標(biāo)準(zhǔn)

    GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則

    GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 名詞術(shù)語

    GB2424.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

    3    對試驗(yàn)設(shè)備的要求

    3.1  用于制造試驗(yàn)設(shè)備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗(yàn)結(jié)果。

    3.2  試驗(yàn)設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)第5章規(guī)定的限度之內(nèi)。

    3.3  有足夠大的容積,并能提供均勻的試驗(yàn)條件,且試驗(yàn)時這些條件不受試驗(yàn)樣品的影響。3.4  鹽霧不得直接噴射到試驗(yàn)樣品上。

    3.5  試驗(yàn)設(shè)備工作空間內(nèi)頂部和內(nèi)壁,以及其他部位的冷凝液不得滴落在試驗(yàn)樣品上。

    3.6  試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡。

    4    試驗(yàn)溶液

    4.1